Рисунок 1. Этот образец в 5,35 карата, представленный в виде необработанного алмаза, был идентифицирован как синтетический муассанит, покрытый алмазной пленкой.

    Прозрачный желтоватый октаэдрический кристалл (рис. 1) весом 5,35 карата был передан в качестве необработанного алмаза в Дальневосточный геологический институт (FEGI) для исследования.
   Грани октаэдра имели ступенчатый вид, а ребра имели параллельные бороздки и комбинационные поверхности. Грани и ребра были гладкими, за исключением одной грани, где было заметно механическое повреждение. Сначала образец был исследован с использованием обычных геммологических инструментов. Он был инертен к длинноволновому УФ (365 нм) и анизотропен. Проверка теплопроводности показала алмаз. Однако тесты на электропроводность не были убедительными: некоторые области (в основном по ребрам) соответствовали алмазу, а другие (на гладких гранях и неровностях) указывали на синтетический муассанит. Не было никаких включений, связанных с природным алмазом. Только маленькие параллельные иглоподобные включения, типичные для синтетического муассанита, были обнаружены с помощью геммологического микроскопа (рисунок 2).

Рисунок 2. Игольчатые включения в образце необработанного синтетического муассанита.

Рис. 3. Трехмерная рентгеновская томография рендеринга реконструированного образца. Окраска изображения соответствует степени проницаемости рентгеновских лучей. Зеленый цвет представляет кристалл SiC, а синий – алмазную пленку.

    Рентгеновская томография показала, что внутренняя часть образца отличалась своей рентгеновской плотностью от внешней оболочки, которая имела переменную толщину от 19 до 115 мкм (фиг.3). Микрозондовый анализ с помощью четырехканального микроанализатора JEOL JXA-8100 выявил присутствие до 61 мас.% Кремния на некоторых полированных гранях кристалла наряду с титаном в составе поверхностного слоя (рисунок 4 и таблица 1). Некоторые гладкие грани имели алмазную химическую природу.

Рисунок 4. Фрагмент синтетического кристалла муассанита, рассматриваемый электронно-зондовым микроанализатором. Кристалл был проанализирован на поверхности. Номера спектра соответствуют номерам анализа в таблице 1.

    На основании этих результатов мы определили образец как синтетический муассанит, который был покрыт тонкой алмазной пленкой. Алмазное покрытие, вероятно, было нанесено с использованием поликристаллических алмазов. Верхний слой был изготовлен из композиционного материала, состоящего из металлической матрицы и наноалмазных частиц.
   Трудно идентифицировать имитацию алмаза, такого как синтетический муассанит, покрытый тонкой алмазной пленкой, поскольку его блеск и термические свойства соответствуют алмазу. Даже с очень тонким покрытием, которое не превышало 0,001 мм, образец дал положительный результат на алмаз. Такое нанесение тонких алмазных пленок на неалмазный материал уже становится проблемой для алмазников.